Тестирование ICT: векторное или безвекторное?

Городецкий Ами

Несмотря на мое намерение прервать на некоторое время обсуждение разнообразных сторон тестирования ICT, я все же решил посвятить эту колонку одному из таких аспектов. Дело в том, что в августовском номере журнала Evaluation Engineering я прочел статью двух ведущих специалистов по ICT-тестированию фирмы Teradyne — Алана Альби и Майкла Смита (Alan Albee, Michael J. Smith). И это навело меня на мысль еще раз остановиться на сравнении характеристик векторных и безвекторных методов ICT-тестирования.

Статьи последних номеров доступны только в печатном варианте. Вы можете приобрести свежие номера журнала «Компоненты и технологии» в свободной продаже или заказать в редакции. Извините за доставленные неудобства.

Другие статьи по данной теме:

• Новости сайта
• Новая статья Ами Городецкого «Новый JTAG-стандарт IEEE 1149.7»в разделе «JTAG-тестирование»
• Материалы международной конференции по тестированию электроники ITC-2009. Часть 3
• Снова о внутрисхемном тестировании ICT. Часть 3
• Прожиг флэш-памяти в протоколе JTAG
• Новые возможности тестирования плат при помощи периферийного сканирования
• AutoBuzz —JTAG-средство для отладки и ремонта
• Новый номер журнала «Компоненты и технологии»

Сообщить об ошибке