Диагностика неисправностей встроенных ПЗУ
Перевод:
В статье представлена схема со встроенной структурой самотестирования (ВСТ), предназначенной для диагностики неисправностей, которая может быть использована для обнаружения постоянных и не зависящих от адресации неисправностей во встроенных ПЗУ. О писанный подход состоит из простой последовательности тестов, не требующей интенсивного взаимодействия между контроллером ВСТ и аппаратурой тестирования. Предлагаемая схема основана на разделении строк и столбцов в массиве памяти с помощью недорогой логической тестовой схемы. Схема разработана для тестирования ИС памяти на их рабочих частотах и позволяет обнаруживать неисправности, связанные с параметрами времени.
Статьи последних номеров доступны только в печатном варианте. Вы можете приобрести свежие номера журнала «Компоненты и технологии» в свободной продаже или заказать в редакции. Извините за доставленные неудобства.
Другие статьи по данной теме:
- Снова о внутрисхемном тестировании ICT. Часть 1
- Снова о внутрисхемном тестировании ICT. Часть 3
- Автоматизация измерений с помощью программных средств Expect/Tcl на примере тестирования АЦП
- Снова о внутрисхемном тестировании ICT. Часть 2
- Новый уровень реалистичности тестирования и оценки качества перспективных РЛС и РЭБ